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全角度光谱测量台

  • 杭州专谱光电技术有限公司在光谱仪器、激光器系统及配件,生物光学和量子光学等领域和应用有非常多的经验和解决方案,同时也组建了一支专业的销售和服务团队。目前公司在光谱仪器和激光检测系统方面有自己的研发能力,开发出了便携式土壤重金属分析仪(LIBS)、便携式红宝石标压系统、显微拉曼测量系统等。同时公司时刻关注全球较早 前沿的技术和产品,目前代理包括微型光纤光谱仪、红外光谱仪,飞秒激光器,纳秒激光器,可调谐激光器,窄线宽激光器,He-Ne激光器等各种激光器和配件。同时代理各类光电检测设备,包括功率计、能量计、光束质量分析系统、脉宽测量探测器和自相关仪、偏振态测量系统。还有代理各类光学配件,包括光学元器件,位移系统,滤波片。

     

    材料中的很多成份,以不同角度入射,得到的透射率和反射率会发生变化。通过测量不同角度入射,研究材料的最敏感角度,为进一步研究或设计测量仪器提供依据。

    RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件,可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量,适用于各种表面平整的样品光谱测量。采用电控独立双轴设计,高精度步进电机控制发射端和接收端的角度,角度分辨率0.05°。光谱范围220-2500nm(可选择不同配置),电脑软件选择发射端和接收端的角度,实现快速的光谱测量,能够满足透射/反射/散射/荧光/辐射等多种模式的全角度光谱测量应用的需求。

    入射端带有一个旋转偏振片架和一个滤波片架,可以放置一个偏振片和滤波片。接收端带有一个滤波片架,可以放置一个滤波片、偏振片或者波片。各种波长的范围的偏振片、滤波片和波片可供选择。

     

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    产品特点:

    • 全角度测量:发射端角度范围0°至180°,接收端角度范围0°至360°,可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量。

    • 精确角度控制:高精度电机,角度精度及重复性能优异。

    • 多光谱测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量。

    • 可编程测量模式:可以通过编程,来实现自动多角度光谱测量。

    • 自由测量模式:可以任意控制样品台的入射角、接收角,实现光谱测量。

    • 可选配件多样:根据客户的不同测量应用,可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的测量应用。

    • 多维调节样品台:样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成,可实现样品的五维正交调节。

     

    产品应用:

    • LED光源等

    • 材料镀膜

    • 光子晶体器件

    • 液晶显示

    • 传感器器件制备

    • 角度材料相关分析

    • 纳米光学材料

     

    技术参数

    参数指标

    参数/型号

    RTM-VA

    RTM-VAS

    光谱范围

    360-2500nm

    360-2500nm

    光源

    含钨灯光源

    含钨灯光源和积分球

    光斑大小

    ≥3mm

    ≥5mm

    入射角范围

    0-180°

    0-180°

    接收角范围

    0-360°

    0-180°

    角度分辨率

    0.05°

    测量对象

    平面样品、发光样品

    镜面样品、曲面样品

    应用

    反射、透射、散射、荧光测量

    反射率、透过率测量

     

    可选配件

    紫外扩展模块

    RTM-UV

    250-2500NM

    光谱仪

    USB2000+

    350-1000nm

    QEPRO

    350-1100nm

    NIRQUEST

    900-2500nm

    光源

    DH-2000

    220-2500nm

    偏振片

    PLine-UV

     

    PLine-VIS-A

    400-700nm

    PLine-VIS-B

    600-1100nm

    PLine-NIR-A

    1050-1700nm

     

    光谱角度测量模式

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    反射测量(上反射/下反射)模式

    透射测量模式

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    散射/荧光测量械

    辐射测量模式

     

     

     

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全角度光谱测量台
RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件,可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量,适用于各种表面平整的样品光谱测量。

品牌:专谱
型号:RTM-VA,RTM-VAS

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