SPL-8202-02 紫外增强硅光电探测器 200-1100nm
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SPL-8202-02紫外增强硅光电探测器是Si-UV材料的光电探测器，SPL-8202-02覆盖200nm到1100nm的波长范围，并且可以通过选配的OD1/OD2/OD3衰减片来扩展可测量的范围。
SPL-8202-02紫外增强硅光电探测器可以通过DB15接口与SPL-8201光功率计仪表直接连接进行数据读取，数据存储，以及功率监控。光功率计仪表上的USB接口可以将光电探测器中采集的数据上传至电脑上的OPM光功率测量软件中进行分析与采集。
SPL-8202-02紫外增强硅光电探测器也可以试用USB直接连接电脑进行数据采集，电脑中使用的OPM光功率测量软件可以实现实时数据的采集，分析，以及监控，统计。配置USB接口的紫外增强硅光电探测器可以让用户便捷的组成多通道采集系统，通过USB集线器串联，用户可以同时采集和检测多个探测器中的数据。
数字通讯传输
SPL-8202-02紫外增强硅光电探测器在完成数据采集和处理后，使用数字通讯与SPL-8201光功率计仪表传输数据，以此减少外界干扰。
自由空间光与兼容光纤
SPL-8202-02紫外增强硅光电探测器适用于自由空间光的分析测量，如果用户有需求，也可以使用光纤适配器（FC/SMA）检测光纤输出光。
可配衰减片
SPL-8202-02紫外增强硅光电探测器有可以选配的OD1/OD2/OD3衰减片，以扩展可测量的范围。
提供出厂校准检测报告
SPL-8202系列光电探测器的出厂校准数据储存在探测器中。用户在收货时将一起收到对应的检测报告。如果选配了衰减片，那么配置衰减片后的校准数据也一并在报告中。
在波长254nm测得的响应曲线
参数规格表
型号
SPL-8202-02-L（DB15）
SPL-8202-02-U（蓝牙/USB）
探测器材料
Si-UV
波长范围
200-1100nm
功率测量范围（不配置衰减）
100pW-1mW
-70dBm-0dBm
最大平均功率密度（不配置衰减）
1mW/cm²
NEP
3.9E-14W/√HZ
响应时间
5.9us
有效探测直径
1.128cm
有效探测面积
1cm²
固定孔
通用8-32/M4
外形（直径x高度）
38mm X 28mm
重量
105g
工作温度/湿度
5-50℃ / <70%RH
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